高低温试验箱在航空航天元器件测试中的关键作用-17c呱呱爆料

产物分类

Cassification

技术文章/ Technical Articles

您的位置：首页 / 技术文章 / 高低温试验箱在航空航天元器件测试中的关键作用

高低温试验箱在航空航天元器件测试中的关键作用

更新时间：2025-09-10&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;

浏览次数：23

航空航天领域的环境对元器件可靠性提出严苛要求，从零下数十摄氏度的高空低温到设备运行产生的局部高温，元器件性能若出现偏差，可能引发致命故障。作为核心测试设备，通过模拟温环境，成为保障航空航天装备安全、推动技术升级的关键环节。

在元器件性能验证方面，可精准复现航空航天场景中的温度变化。例如，航天器在升空过程中，外部温度从常温骤降至 - 180℃，在轨运行时又因太阳辐射升至 150℃以上，试验箱能通过程序控制实现 - 70℃至 150℃的快速温变（升温速率可达 5℃/min），测试芯片、传感器等元器件在温变中的电性能稳定性。以导航系统中的 MEMS 陀螺仪为例，试验箱可模拟不同高度的温度环境，检测其输出精度偏差，确保在温条件下仍能提供精准导航数据，避免因元器件温漂导致的导航失误。

该设备还能提前暴露元器件潜在缺陷，降低飞行风险。航空航天元器件多采用精密封装，高温环境可能导致封装材料老化、引脚氧化，低温则易引发材料脆化、焊点开裂。高低温试验箱通过循环温变测试（如 - 55℃~125℃循环 500 次），加速元器件老化过程，提前发现隐性故障。例如，某型航天连接器经试验箱测试后，发现低温下接触电阻增大的问题，经结构优化后，避免了在轨通信中断风险。据统计，通过高低温试验筛选的元器件，其在轨故障率可降低 60% 以上。

此外，高低温试验箱为航空航天技术创新提供数据支撑。在研发新一代耐高温芯片时，试验箱可模拟发动机周边的高温环境（如 300℃以上），测试芯片的耐高温极限，为材料选型、电路设计提供关键数据；在航天器热控系统研发中，试验箱能模拟太空真空与温差，验证热控元件的控温精度，助力优化热控方案，保障航天器在轨热平衡。可以说，高低温试验箱不仅是元器件质量的 “把关者"，更是航空航天技术突破的 “助推器"。

上一篇：高低温试验箱常见故障排查：从报警到停机的解决方法
下一篇：高低温试验箱日常维护要点：延长设备寿命的实用策略