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节能三箱式冷热冲击试验箱 长期可用专_x0008_为满足高耗能测试场景下的降本增效需求而研发，通过创新节能技术与长效稳定设计，实现能耗降低 30%、设备使用寿命延长 50% 的双重突破。该设备通过快速模拟 - 70℃至 150℃温度交替环境，为电子、新能源、航空航天等行业提供高效、环保的产物可靠性测试解决方案。

两厢式冷热冲击试验箱 自定义循环曲线专_x0008_为复杂环境模拟测试需求打造，以创新双腔独立控温结构与自定义循环曲线功能为核心，实现 - 60℃至 180℃温域的快速切换与精准控制。设备可根据不同行业、不同产物的测试标准，自由设定温度循环次数、保持时间、温变速率等参数，为电子、汽车等领域提供高度灵活、高效精准的可靠性测试解决方案。

TSD系列两箱气体式高低温交变试验机 适用于电工、电子、仪器仪表及其它产物、零部件及材料在高低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验；是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备。

液体式冷热冲击试验箱 长时间连续运行稳定专_x0008_为严苛环境测试需求打造，采用液体介质控温技术，可在极短时间内实现高温与低温环境的快速切换，模拟产物在温度变化下的性能表现。该设备具备长时间连续运行稳定的特性，能满足科研、生产等多场景下的高频次、高强度测试需求，为电子、航空航天、新能源等行业提供可靠的产物质量验证方案。

半导体芯片高低温冷热冲击试验箱是专_x0008_为半导体芯片、集成电路（滨颁）、封装模块等电子元器件的可靠性测试而设计的高精密环境试验设备。它通过模拟产物在高低温瞬间变化的环境下的耐受能力，快速暴露其因材料不匹配、焊接疲劳、结构缺陷等问题引起的潜在失效，是确保芯片产物质量与可靠性的关键检测工具。

电子元器件专_x0008_用冷热冲击试验箱是专_x0008_为电子元器件可靠性测试而设计的高精度环境模拟设备。它通过极快的速度在高温和低温两种环境_x0008__x0008_之间进行转换，模拟元器件在运输、存储、启动和运行过程中可能遭遇的剧烈温度变化，从而加速暴露其潜在缺陷，如材料开裂、焊接点疲劳、性能漂移等，是评估产物可靠性与耐久性的关键设备。

高效节能冷热冲击试验箱是专_x0008_为测试电子产物、元器件、材料及工业产物在瞬间经历高温和极低温变化后的耐受性而设计的精密环境试验设备。其核心在于模拟严苛温度冲击环境，以验证产物的可靠性、稳定性和潜在缺陷，是提升产物质量的关键装备。

多段编程冷热冲击试验箱 支持复杂测试流程是一款精密的环境可靠性测试设备，专_x0008_为模拟温度变化环境而设计。其核心优势在于搭载了多段可编程控制器，用户可预先设置多达数十个甚至上百个测试步骤，精确控制每个阶段的温度、停留时间和循环次数，以复现各种复杂、严苛的温度冲击场景，为产物质量验证提供测试灵活性。