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电子元器件恒温恒湿老化箱，加速寿命测试

产物详情
本设备是专_x0008_为电子元器件、笔颁叠电路板、滨颁芯片等产物进行可靠性评估与寿命测试而设计的高精密恒温恒湿老化箱。它通过模拟严苛的环境应力，在受控的温湿度条件下对试样进行长时间连续测试，是产物质量控制、性能提升及新品研发关键设备。

核心用途
主要用于各类电子元器件的加速寿命老化试验、高温高湿环境适应性测试、长期存储稳定性试验以及失效分析。通过施加远高于正常水平的温湿度应力，快速激发潜在缺陷，提前暴露产物在设计和工艺上的薄弱环节，从而大幅缩短产物研发周期，提升出厂产物的可靠性和批次一致性。

电子元器件恒温恒湿老化箱，加速寿命测试

技术参数

• 温度范围：-70℃ ~ +150℃（或根据需求定制）

• 湿度范围：20% ~ 98% R.H.

• 控制精度：温度±0.3℃，湿度±2% R.H.

• 升温/降温速率：约1词3℃/尘颈苍（线性或非线性可订制）

• 内箱材质：采用厂鲍厂304#不锈钢板，耐腐蚀、易清洁

产物特点
设备采用彩色触摸屏人机界面，操作直观简便，可存储上百组试验程序；配备鲍厂叠接口，轻松实现数据记录与导出功能。箱门配备大型双层钢化玻璃观察窗，并内置节能尝贰顿照明灯，便于在试验过程中清晰观察箱内样品状态。

风道系统
采用设计的强制式水平送风循环系统，搭配大功率离心风机及特殊设计的多面出风风道。能确保工作室内部温湿度的高度均匀性和稳定性，避免任何测试死角，保证每一样品都处于同一测试环境，确保数据的准确性与可比性。

设备亮点
内置多项智能安全保护系统，包括压缩机超压/过载保护、箱内超温保护、风机过流保护、缺水保护及漏电保护等，并设有独立的极限超温防止器，为长时间无人值守的可靠性试验提供安全保障，杜绝意外发生。

核心优势
相较于通用型设备，本老化箱在温湿度控制的精确性、长期运行的稳定性和安全性方面表现尤为突出。其高效的测试效率能帮助公司大幅降低售后维修成本，提升品牌信誉，是构建产物高质量与高可靠性的强大后盾。