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高低温试验箱 电子芯片环境稳定性检测仪器

产物详情

高低温试验箱是专_x0008_为电子芯片、半导体元件及精密电子部件设计的环境稳定性检测设备。其采用高强度不锈钢内胆与双层隔热结构，配备精密温控系统，可实现-70℃至+150℃的宽温度范围测试，波动度控制在&辫濒耻蝉尘苍;0.5℃以内。设备支持多段编程功能，可模拟高温、低温、恒温及交变循环等复杂环境条件，并配备搁厂485通信接口，支持数据实时监控与远程操作。

用途

该设备主要用于电子芯片的环境适应性验证，包括高温运行、低温启动、温度循环耐受性、材料热膨胀系数测试等。广泛应用于半导体制造、汽车电子、航空航天、通信设备等领域，确保产物在温度条件下的可靠性、稳定性及寿命表现。

高低温试验箱 电子芯片环境稳定性检测仪器

概述

高低温试验箱通过模拟人工环境应力，加速暴露电子芯片在设计、材料或工艺中的潜在缺陷。其具备高精度温控能力与可重复测试条件，是产物研发、质量检验及失效分析中的关键工具。

产物特点

1. 宽温域覆盖：支持-70℃至+150℃快速变温，满足多数芯片测试标准；

2. 多段编程控制：可设定多达100组程序，模拟复杂温度变化场景；

3. 低能耗设计：采用变频压缩机和环保制冷剂，节能且符合绿色标准；

4. 安全防护系统：具备过温保护、电源故障恢复、漏电防护等多重安全机制。

工作原理

设备通过压缩机制冷系统实现低温环境，电加热系统实现高温环境。温控器接收箱内传感器数据，动态调节制冷/加热输出功率，实现精确温控。芯片样品置于内部搁架，通过强制空气循环确保温度均匀性，模拟真实环境应力。

注意事项

1. 避免在高温状态下直接开启箱门，防止温差骤变导致凝露或部件损伤；

2. 定期清洁冷凝器和过滤器，保持散热效率；

3. 测试样品需固定放置，避免阻挡风道循环；

4. 长期停用时需排空制冷剂并断电维护。

设备亮点

• 智能交互界面：7英寸触摸屏支持图形化操作与实时曲线显示；

• 模块化设计：核心部件（压缩机、控制器）支持快速更换，减少停机时间；

• 数据追溯功能：自动生成测试报告，符合ISO/IEC 17025质量管理要求。

优势

1. 高精度控制：温度均匀性达&辫濒耻蝉尘苍;1℃，确保测试一致性；
   2 长寿命设计：核心压缩机寿命超10万小时，降低长期使用成本；

2. 扩展性强：可选配湿度控制、振动模块等功能，适应多样化测试需求；

3. 符合国际标准：满足MIL-STD-810、JEDEC、GB/T 2423等测试规范。