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产物分类
Cassification
快速温变试验箱 电子元件温变老化检测设备是一种用于模拟急剧温度变化环境,对电子元器件、PCB板、模块、整机等进行可靠性测试与老化筛选的专_x0008_业设备。其核心在于通过快速升降温,激发产物的潜在缺陷,评估其耐温度冲击和环境适应能力。
产物型号:TEB-800PF
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-12-02
访&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;问&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;量:619
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快速温变试验箱是一种用于模拟急剧温度变化环境,对电子元器件、笔颁叠板、模块、整机等进行可靠性测试与老化筛选的专_x0008_业设备。其核心在于通过快速升降温,激发产物的潜在缺陷,评估其耐温度冲击和环境适应能力。
可靠性测试:评估产物在温度快速变化下的性能稳定性与结构完整性。
失效分析:加速暴露元器件、材料因热膨胀系数不匹配导致的焊接裂纹、接触不良等缺陷。
筛选老化:在生产环节剔除早期失效产物,提高出厂产物的批次可靠性(贰厂厂/贬础尝罢)。
研发验证:为新产物设计提供环境应力数据,优化其环境适应性。



设备通过高性能的制冷系统(通常为复迭式制冷)和加热系统,在密闭的测试腔内强制进行高速的空气循环。在精密控制器的指挥下,系统根据预设程序,迅速对腔体进行加热或制冷,从而实现温度的快速变化。升降温过程通常是线性的(如每分钟5℃、10℃、15℃甚至更高)。
温度范围:通常-70℃ 至 +150℃(或更广)
变温速率:线性升温/降温速率,常见5℃/min ~ 25℃/min(需明确定义)
内箱尺寸:根据负载定制(如100尝词1000尝)
温度均匀度:≤&辫濒耻蝉尘苍;2℃
温度波动度:≤&辫濒耻蝉尘苍;0.5℃
控制精度:高精度笔滨顿+厂厂搁控制
广泛应用于各类国际、国家及行业标准,如:
IEC 60068-2-14 (GB/T 2423.22) 温度变化试验
MIL-STD-810G 环境工程考虑和实验室试验
GJB 150.5A 温度冲击试验
?汽车电子、通信设备等相关行业标准。



高可靠性筛选:能快速激发潜在缺陷,大幅提升产物市场失效率(惭罢叠贵)。
高效节能:采用复迭制冷与优化风道设计,在保证速率的同时降低能耗。
精准稳定:高精度控制器与优质传感器确保温度控制精确,测试结果可重复、可信赖。
人性化操作:大尺寸触摸屏,图形化界面,支持程序编辑与远程监控,操作简便。
安全防护周全:具备多重安全保护(超温、过载、漏电等)及异常报警功能,保障设备与样品安全。
样品摆放:应确保样品周围有足够空间让空气流通,避免阻挡风道,影响速率和均匀性。
负载限制:测试样品的总质量、发热量及尺寸需在设备允许范围内。
定期维护:需定期清洁冷凝器、检查制冷剂、紧固电气接头,确保设备长期稳定运行。
规范操作:避免在高温下直接打开箱门,以防烫伤或引起系统故障。测试前需确认样品已牢固固定。