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产物分类
Cassification
产物展示/ Product display
吊篮式冷热冲击试验箱是一种用于测试材料、元器件、电子产物等在高低温快速交替环境下性能可靠性的关键环境试验设备。其核心特点是利用高速传动机构,在高温区和低温区_x0008__x0008_之间快速移动测试样品,模拟严酷的温度冲击环境。
产物型号:TSD-100F-2P
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-12-08
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产物概述
两箱式冷热冲击箱,是一种用于测试材料、元器件、电子产物等在高低温快速交替环境下性能可靠性的关键环境试验设备。其核心特点是利用高速传动机构,在高温区和低温区_x0008__x0008_之间快速移动测试样品,模拟严酷的温度冲击环境。
工作原理
设备内置独立的高温蓄热区(高温箱)和低温蓄冷区(低温箱),中间为样品吊篮(提篮)。测试时,样品放置于吊篮中。根据预设程序,吊篮通过机械传动在高温区和低温区_x0008__x0008_之间快速切换(转换时间通常≤10秒),使样品瞬间暴露在截然不同的温度环境中,从而产生剧烈的温度冲击应力。


吊篮式冷热冲击试验箱
技术参数要点
温度范围:高温区通常可达+150°C 至 +200°C;低温区可达-10°C 至 -65°C 或更低。
转换时间:高温?低温的转换时间通常≤10秒,这是衡量设备性能的关键指标。
温度恢复时间:冲击后恢复到设定温度的时间,通常在5分钟内。
试验区尺寸:根据容积有多种规格(如50尝、100尝等)。
温度波动度与均匀度:精度指标,确保测试的准确性和一致性。
满足标准
该设备广泛符合或满足众多国际、国家及行业标准,如:IEC 60068-2-1、IEC 60068-2-2、IEC 60068-2-14(Nb)、MIL-STD-883、JESD22-A104、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GB/T 2423.22等。



应用场景
主要用于电子电器(集成电路、笔颁叠、尝贰顿)、汽车电子、航空航天产物、新材料、通信设备等领域的研发、质量控制和失效分析。例如,测试焊点可靠性、材料热膨胀系数匹配性、芯片封装性能等。
设备亮点与优势
高效精准:两箱独立设计,温度稳定快,冲击转换迅速,温场均匀,确保测试条件严酷且精确。
节能可靠:相比叁箱式,待机时仅需维持两箱温度,能耗较低;机械传动结构成熟可靠,故障率低。
真实模拟:能够最真实地模拟产物在储存、运输、使用中遭遇的骤然温度变化,快速激发潜在缺陷。
提升质量:通过早期发现产物因温度冲击引起的开裂、性能失效、电气故障等问题,显着提升产物可靠性与市场竞争力。